三星回应7nm EUV良率事故传闻:与事实完全不符

来源:TechWeb.com.cn2019-08-23 17:22:00

【TechWeb】8月23日,日前,有报道称由于三星7nm工艺良率问题,高通交由其代工的中端5G处理器骁龙SDM7250全部报废,对此,今日三星方面正式作出回应,表示相关报道内容与事实完全不符。

三星电子表示,其EUV技术历经长时间的研发并拥有成功量产的经验,目前已达成高技术成熟度以及高良品率,EUV先进制程的良率爬坡速度也比之前的制程更快。

此前,高通方面相关人士就“三星导致高通5G芯片全部报废”作出回应,称这是彻头彻尾的假新闻。

以下为三星声明全文:

针对近期部分媒体关于“三星电子7nm EUV良率”的相关报道,我司郑重声明:内容与事实完全不符。

三星Foundry于今年4月在业内首推以EUV技术为基础的量产产品,并向客户供货。三星电子的最尖端EUV技术,历经长时间的研发并拥有成功量产的经验,目前已达成高技术成熟度以及高良品率,EUV先进制程的良率爬坡速度也比之前的制程更快。

以EUV技术为基础的5G产品计划在今年第四季度开始量产。

三星电子

2019年8月23日

责任编辑:马凯

标签: 三星 高通 三星7nm 三星良率

相关文章

要闻

原创

最新

取消